多功能X射線吸收譜儀(XAFS/XES)是一種基于X射線與物質相互作用的先進分析儀器，通過精細調控X射線能量激發樣品中特定元素的電子躍遷，并測量發射X射線的能量和強度，從而獲取元素的價態、配位環境、化學鍵類型及局部電子結構等關鍵信息。
 

　　當X射線穿過樣品時，特定能量的射線被原子吸收，引發電子躍遷并發射特定波長的X射線。這些發射的X射線攜帶樣品原子結構和電子狀態信息。通過分析吸收譜線的形狀、位置和強度，可揭示物質在原子尺度上的結構特性。XAFS譜主要包括兩部分：
 

　　X射線吸收近邊結構(XANES)：涵蓋吸收邊前約10 eV至吸收邊后約50 eV的范圍，主要來源于內殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應，用于分析元素的化學狀態和價態。
 

　　擴展X射線吸收精細結構(EXAFS)：能量范圍在吸收邊后50 eV到1000 eV，來源于內層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應，用于分析原子周圍局部環境的配位結構。
 

　　多功能X射線吸收譜儀功能特點：
 

　　多模式支持：支持透射/熒光模式吸收譜、發射譜，適應不同樣品類型(如固體、液體、氣體)和測試需求。
 

　　近邊快掃功能：快速獲取XANES數據，提高測試效率。
 

　　多樣品自動采集：定制多樣品自動進樣系統，減少人工操作，提升通量。
 

　　標樣數據庫與數據解析指導：提供標準樣品數據庫，簡化用戶分析流程；支持原位場景定制，提供專業數據解析指導。
 

　　原位測試能力：可搭配高溫、高壓、低溫、低壓及各種氣氛條件下的樣品池，實現反應過程的原位觀察。